новость
Запатентованные решения от компании "Поларлайт" на стенде №А151, производители спектральных эллипсометров на заказ и другое оборудование
Решения задач неразрушающего контроля свойств поверхности, тонкопленочных структур, полупроводников, диэлектриков на основе спектральной эллипсометрии.
Бесконтактное определение толщины ( с точностью до 0.3нм), показателей преломления и поглощения, шероховатостей границ раздела и поверхности в многослойных просветляющих, отражающих, светоделительных, фильтрующих оптических покрытиях на основе вторидов, оксидов, полупроводников.
Определение толщин слоев. Спектральных зависимостей оптических констант, параметров зонной структуры, состава твердых растворов, концентраций примесей для материалов:
-
Микроэлектроники;
-
Оптоэлектроники;
-
Фотовольтаики;
-
II-VI соединений;
-
Магнитооптических материалов.
Запатентованное решение (RU2474810) позволяет изготовить эллипсометр для проведения измерений в широком спектральном диапазоне 130+2500nm
Запатентованное решение (RU2638092) позволяет проводить измерения с временным разрешением до 100 мс
Для высокой точности и скорости измерений использование CMOS детекторов Hamamatsu
Все эти разработки и многое другое вы можете увидеть уже сегодня, получив ВАШ ЭЛЕКТРОННЫЙ БИЛЕТ >>