Запатентованные решения от компании "Поларлайт" на стенде №А151, производители спектральных эллипсометров на заказ и другое оборудование

Решения задач неразрушающего контроля свойств поверхности, тонкопленочных структур, полупроводников, диэлектриков на основе спектральной эллипсометрии.

Бесконтактное определение толщины ( с точностью до 0.3нм), показателей преломления и поглощения, шероховатостей границ раздела и поверхности в многослойных просветляющих, отражающих, светоделительных, фильтрующих оптических покрытиях на основе вторидов, оксидов, полупроводников.

Определение толщин слоев. Спектральных зависимостей оптических констант, параметров зонной структуры, состава твердых растворов, концентраций примесей для материалов:

• Микроэлектроники;
• Оптоэлектроники;
• Фотовольтаики;
• II-VI соединений;
• Магнитооптических материалов.

Запатентованное решение (RU2474810) позволяет изготовить эллипсометр для проведения измерений в широком спектральном диапазоне 130+2500nm

Запатентованное решение (RU2638092) позволяет проводить измерения с временным разрешением до 100 мс

Для высокой точности и скорости измерений использование CMOS детекторов Hamamatsu

Все эти разработки и многое другое вы можете увидеть уже сегодня, получив ВАШ ЭЛЕКТРОННЫЙ БИЛЕТ >>